Просвечивающий микроскоп атомарного разрешения JEM-ARM200F

JEM-ARM200F, включающая корректор сферической аберрации для электронной оптической системы в качестве стандартного оборудования, достигает разрешения в растровом просвечивающем режиме (STEM-HAADF) 0,08 нм, что является наивысшим значением в мире среди серийных моделей электронных микроскопов. Электронный зонд после коррекции всех аберраций отличается тем, что он имеет на порядок большую плотность тока по сравнению с обычными просвечивающими электронными микроскопами. При тонкой фокусировке такого зонда микроскоп JEM-ARM200F позволяет проводить анализ на атомном уровне при значительном сокращении времени измерения и повышения производительности исследований. Повышенные электрическая и механическая стабильность.

Широкий спектр аналитических возможностей в просвечивающем растровом режиме (STEM). В модель одновременно могут устанавливаться: два вида темнопольных детекторов с различными углами детектирования в STEM режиме (один в стандартной комплектации), светлопольный детектор (стандартная комплектация), детектор отраженных электронов (опционально). Новая сканирующая система сбора изображения одновременно получает до 4-х различных сигналов и позволяет наблюдать 4 изображения одновременно. Контроль влияния внешней среды.

Вибрации и искажения на атомном уровне зачастую вызваны изменениями температуры и магнитных полей в комнате с микроскопом. ARM200F экранирован от температурных и магнитных флуктуаций в стандартной комплектации. Колонна изолирована кожухом от температурных колебаний, вызванных конвекцией воздуха в помещении. 
Корректор сферических аберраций для системы формирования ПЭМ изображения (опционально).

При использовании корректора сферических аберраций для системы формирования изображения в ПЭМ режиме разрешение может быть улучшено до 0,11 нм.