Дополнительные периферийные устройства:
- Рентгеновские трубки
- Поликапиллярная оптическая система PCL-1001
- Монохроматоры дифрагированного пучка
- Приставка для вращения образца RS-1001
- Автоматический 5-и позиционный сменщик образцов, с вращением ASC-1001
- Приставка для анализа тонких пленок, с вращением ТНА-1101
- Приставка для анализа волокон (в комплекте с программным обеспечением)
- Система автоматического изменения ширины щелей AVS-1101
- Приставка для анализа микрообъектов (с цифровой видеокамерой или микроскопом) MDA-1101/1201
- Приставка для анализа напряжений (в комплекте с программным обеспечением) SA-1101
- Приставка для построения полюсных фигур (в комплекте с программным обеспечением)
- Система позиционирования образца ZYX
- Циркуляционная система охлаждения рентгеновской трубки RKE1500A-V-SP: Orion (Япония)
Рентгеновская трубка |
|
Материал и тип анода |
Cu, Co, Fe, Cr |
Размеры фокуса и максимальная мощность |
1,0 x 10 мм; максимальная мощность 2 кВт 2,0 x 12 мм; максимальная мощность 2,7 кВт 0,4 х 12 мм; максимальная мощность 2,2 кВт |
Рентгеновский генератор |
|
Максимальная мощность |
3 кВт |
Максимальные параметры работы |
60 кВ – 80 мА |
Защита трубки |
Защита от превышения мощности, перегрузок по току и напряжению, перебоев водоснабжения |
Механизмы защиты |
Механизм блокировки двери Аварийный стоп |
Гониометр |
|
Тип |
Вертикальный θ – 2θ |
Радиус гониометра |
185 мм |
Автосамплер |
5 позиций (опция) |
Минимальный шаг сканирования |
0,0020 ( 2θ ); 0,0010 ( θ ) |
Режимы работы |
Непрерывное сканирование, пошаговое сканирование, позиционирование, осцилляция по оси θ |
Скорость сканирования |
0,10 ~ 500/мин ( 2θ ); 0,050 ~ 250/мин ( θ ) |
Дополнительные принадлежности (опции) |
|
Система поликапиллярной оптики Система автоматически меняющихся щелей Монохроматор дифрагированного пучка Приставка для анализа тонких плёнок Приставка для анализа волокон с программным обеспечением Приставка для анализа микрообъектов с цифровой видеокамерой Приставка для анализа напряжений с программным обеспечением Высоко- и низкотемпературные камеры Приставка для текстурного анализа с программным обеспечением Автономная система водяного охлаждения |
|
Дополнительное программное обеспечение (опции) |
|
Расчёт остаточного аустенита Расчёт прецизионных параметров решётки Определение типа кристаллической решётки Определение размеров кристаллитов и искажений решётки Определение степени кристалличности Базы данных порошковых дифрактограмм PDF-2 и PDF-4 Анализ Rietveld |