На протяжении многих лет наша компания плодотворно сотрудничает и Институтом геологии и геохимии им. акад. А.Н. Заварицкого (г. Екатеринбург), где на базе Центра коллективного пользования УрО РАН «Геоаналитик» функционирует демонстрационная лаборатория Shimadzu, в которой представлено современное рентгеноспектральное оборудование:

- рентгеновский дифрактометр XRD-7000 “Maxima

- последовательный волновой кристалл-дифракционный рентгенофлуоресцентный спектрометр XRF-1800 “LabCenter

- энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр EDX-8000

Данная комбинация рентгеноспектральных приборов позволяет проводить разносторонние исследования кристаллических природных субстанций и синтезированных материалов.

Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр

       

           Последовательный волновой кристалл-дифракционный рентгенофлуоресцентный спектрометр   

        Рентгеновский дифрактометр

Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный 
спектрометр EDX-8000
          Последовательный волновой кристалл-дифракционный           рентгенофлуоресцентный спектрометр
     XRF-1800 “LabCenter”

        Рентгеновский
        дифрактометр
        XRD-7000 “Maxima”

 

Рентгеновский дифрактометр оснащен набором опциональных устройств, таких как микродифракционная приставка, поликапиллярная оптическая система, высокотемпературная приставка (нагрев до 2000 oС), благодаря чему, помимо стандартных приложений порошковой дифрактометрии – качественно-количественного анализа полифазных препаратов и рентгеноструктурного анализа, – в лаборатории проводятся исследования микрообразцов, нестандартных объектов с выпукло-вогнутыми поверхностями и различных обратимых и необратимых температурных эффектов в кристаллических структурах.

Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр EDX-8000 применяется для экспрессного качественно-полуколичественного анализа монолитных и порошкообразных материалов разнообразного происхождения, тогда как более прецизионное изучение валового химического состава веществ с последовательной детальной оптимизацией условий измерения для каждого отдельного объекта анализа проводится на последовательном волновом спектрометре XRF-1800. Помимо стандартных задач качественного и количественного анализа данный прибор позволяет выполнять двумерное картирование поверхности образца с высоким разрешением.

Ознакомиться с оборудованием и услугами центра «Геоаналитик» вы сможете  на сайте  www.geoanalyst.ru.

Заявка на обратный звонок
При заполнении формы Вы даете согласие на обработку персональных данных.