EDX-8100 Shimadzu
Рентгенофлуоресцентный спектрометр для неразрушающего элементного анализа
EDX-7200 Shimadzu Рентгенофлуоресцентный спектрометр для быстрого элементного анализа и скрининга
Цена
По запросу
EDX-7200 Shimadzu Рентгенофлуоресцентный спектрометр для быстрого элементного анализа и скрининга
Характеристики
Бренд
Shimadzu
Сферы применения
- Пищевая промышленность, сельское хозяйство и экологический мониторинг.
- Фармацевтика и косметология.
- Химическая, нефтехимическая промышленность.
- Электронная, металлургическая и горнодобывающая промышленность.
- Автомобилестроение, производство полимеров, пластмасс, лаков и красок.
- Биология, медицина, наука, образование и криминалистика.
Категории
Элементный анализ
Цена
По запросу
Метод анализа
Рентгенофлуоресцентный анализ (XRF)
Тип дисперсии
Энергодисперсионный
Диапазон определяемых элементов
Na–U
Типы образцов
Твёрдые, жидкие, порошкообразные
Описание
EDX-7200 Shimadzu — энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр для быстрого неразрушающего анализа элементов от натрия (Na) до урана (U). Модель ориентирована на высокопроизводительный рутинный анализ, контроль материалов и скрининговые задачи, включая RoHS/ELV.
описание
характеристики
дополнительная информация
Рентгенофлуоресцентный спектрометр EDX-7200
EDX-7200 Shimadzu — энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр для быстрого неразрушающего элементного анализа твёрдых, порошкообразных и жидких образцов в диапазоне от натрия (Na) до урана (U).
Модель ориентирована на высокопроизводительный рутинный анализ, контроль качества материалов и скрининговые задачи. Высокоскоростной SDD-детектор и оптимизированная электроника позволяют получать требуемую точность за более короткое время.
Ключевые возможности EDX-7200
Быстрый рутинный анализ
Высокая скорость регистрации сигнала помогает сократить продолжительность измерений и увеличить производительность лаборатории при работе с сериями образцов.
Диапазон Na–U
Спектрометр предназначен для определения элементов от натрия до урана и подходит для широкого круга промышленных, экологических и исследовательских задач.
Скрининг регулируемых элементов
Для EDX-7200 доступны специализированные наборы для скрининга по требованиям RoHS/ELV и других задач контроля опасных элементов в материалах.
Минимальная подготовка образцов
Многие твёрдые, порошкообразные и жидкие образцы можно анализировать напрямую без кислотного разложения, что удобно для входного и производственного контроля.
EDX-7200 или EDX-8100
Когда выбирать EDX-7200
Если диапазона Na–U достаточно, а основные задачи — быстрый рутинный анализ, контроль материалов, серийные измерения и скрининг регулируемых элементов.
Когда рассматривать EDX-8100
Если необходимо определять элементы легче натрия, включая C, O и F, или требуется расширенная работа с лёгкими элементами в сложных и жидких образцах.
Система EDX-7200
SDD-детектор
Высокоскоростной кремниевый дрейфовый детектор обеспечивает высокую скорость счёта и хорошее энергетическое разрешение. Электронное охлаждение исключает необходимость использования жидкого азота.
Коллиматоры и первичные фильтры
Диаметр области облучения выбирается под размер и форму исследуемого участка. Пять автоматически переключаемых первичных фильтров помогают повысить чувствительность при определении следовых элементов.
Вакуум и гелиевая продувка
При необходимости определения лёгких элементов чувствительность можно повысить с помощью вакуумной системы или опциональной продувки гелием. Гелий подходит для жидкостей и других образцов, которые нельзя помещать в вакуум.
Автоматизация серийных измерений
Опциональная 12-позиционная турель позволяет автоматически выполнять последовательные измерения и особенно полезна при большом количестве рутинных проб.
Программное обеспечение и количественный анализ
PCEDX Navi обеспечивает настройку измерений, наблюдение за образцом, выбор условий анализа и просмотр результатов в едином интерфейсе.
Для количественного определения доступны градуировочный и фундаментальный параметрический методы, а также Film FP и Background FP для анализа покрытий, тонких плёнок и образцов сложной формы.
Области применения EDX-7200
Электроника и автомобилестроение
RoHS/ELV-скрининг, контроль опасных элементов, анализ электронных материалов, покрытий и компонентов машиностроения.
Металлы и горнодобывающая промышленность
Определение основных и примесных элементов в металлах, сплавах, сырье, шлаках и минеральных материалах.
Химия и нефтехимия
Анализ катализаторов, пигментов, полимеров, химического сырья, нефтепродуктов и присадок в смазочных материалах.
Экология, пища и фармацевтика
Анализ почв, золы, фильтров, пищевого сырья, посторонних включений и элементных примесей в различных материалах и продукции.
Купить EDX-7200 Shimadzu
ТК «Элемент» поможет подобрать и купить рентгенофлуоресцентный спектрометр EDX-7200 Shimadzu с учётом типа образцов, требуемой производительности, диапазона определяемых элементов и задач контроля.
Специалисты компании помогут подобрать конфигурацию и необходимые опции, подготовить коммерческое предложение, организовать поставку, ввод оборудования в эксплуатацию, обучение пользователей и дальнейшее сервисное обслуживание.
Технические характеристики
Метод анализа
Рентгенофлуоресцентный анализ (XRF)
Тип дисперсии
Энергодисперсионный
Диапазон определяемых элементов
Na–U
Типы образцов
Твёрдые, жидкие, порошкообразные
Максимальный размер образца
300 × 275 × около 100 мм
Максимальная масса образца
5 кг
Рентгеновский генератор
Рентгеновская трубка
Rh-анод
Напряжение на трубке
4–50 кВ
Ток трубки
1–1000 мкА
Охлаждение
Воздушное
Диаметры области облучения
1, 3, 5 и 10 мм; 0,3 мм доступно в соответствующей конфигурации
Первичные фильтры
5 типов + открытая позиция, автоматическое переключение
Детектор
Тип
Кремниевый дрейфовый детектор SDD
Охлаждение детектора
Электронное
Жидкий азот
Не требуется
Камера образцов
Атмосфера измерения
Воздух; вакуум и гелий — опции
Автоматическая смена образцов
12-позиционная турель, опция
Наблюдение за образцом
Камера
Программные и аналитические функции
Программное обеспечение
PCEDX Navi
Качественный анализ
Поддерживается
Количественный анализ
Градуировочный метод, FP-метод
Film FP
Поддерживается
Background FP
Поддерживается
Скрининговые наборы
Опционально
Компания «Элемент» — более 20 лет на рынке аналитического и лабораторного оборудования.
- Сотрудничаем с ведущими производителями и подбираем решения под задачи конкретной лаборатории.
- Собственная сервисная служба объединяет опытных инженеров в Москве, Екатеринбурге и Новосибирске.
- Обеспечиваем полный цикл работ: от подбора и поставки оборудования до ввода в эксплуатацию и обучения персонала.
- Более 1000 организаций выбрали «Элемент» в качестве поставщика и партнёра: вузы, государственные учреждения, промышленные предприятия, фармацевтические и медицинские организации.
Заявка успешно отправлена
Мы свяжемся с вами в ближайшее время, а пока можете продолжить работу с сайтом
ПОХОЖИЕ ТОВАРЫ
ОСТАЛИСЬ ВОПРОСЫ
ИЛИ НЕ НАШЛИ,
ЧТО ИСКАЛИ?
Опишите задачу вашей лаборатории или просто оставьте
контактные данные, и мы свяжемся с вами для
индивидуальной консультации
Заказать
обратный
звонок
Заявка успешно отправлена
Мы свяжемся с вами в ближайшее время, а пока можете продолжить работу с сайтом
Цена
По запросу