Просвечивающий электронный микроскоп CIQTEK / ZHONGTAI Для исследования структуры материалов с высоким разрешением
Просвечивающий электронный микроскоп CIQTEK / ZHONGTAI Для исследования структуры материалов с высоким разрешением
Характеристики
- Электронная, металлургическая и горнодобывающая промышленность.
- Биология, медицина, наука, образование и криминалистика.
Описание
Просвечивающий электронный микроскоп CIQTEK TH-F120 предназначен для исследования структуры материалов на микро- и наномасштабе. Система оснащена автоэмиссионной электронной пушкой, работает при ускоряющем напряжении 10–120 кВ и доступна в версии повышенного контраста и версии высокого разрешения.
Просвечивающий электронный микроскоп CIQTEK TH-F120
TH-F120 CIQTEK — просвечивающий электронный микроскоп с автоэмиссионной электронной пушкой для исследования структуры материалов на микро- и наномасштабе.
Система работает при ускоряющем напряжении от 10 до 120 кВ и доступна в двух исполнениях: версии повышенного контраста и версии высокого разрешения. В зависимости от конфигурации информационный предел составляет 0,20 или 0,14 нм.
Микроскоп предназначен для получения изображений внутренней структуры тонких образцов и может быть расширен дополнительными режимами и аналитическими системами, включая STEM, EDS и EELS.
Автоэмиссионная пушка
Источник электронов Шоттки обеспечивает формирование электронного пучка для получения изображений с высоким пространственным разрешением.
Две версии системы
Конфигурацию можно выбрать в зависимости от приоритета: повышенного контраста изображения или максимального пространственного разрешения.
Ускоряющее напряжение до 120 кВ
Диапазон 10–120 кВ позволяет адаптировать режим исследования к особенностям материала и требованиям конкретного эксперимента.
Расширяемая конфигурация
Для дополнительных исследовательских задач система может оснащаться STEM, энергодисперсионным спектрометром EDS, системой EELS, дополнительной камерой и криобоксом.
Принцип просвечивающей электронной микроскопии
В просвечивающем электронном микроскопе изображение формируется электронным пучком, проходящим через тонкий исследуемый образец.
Взаимодействие электронов с веществом позволяет получать информацию о внутренней структуре материала на масштабе, недоступном традиционной оптической микроскопии.
Электронно-оптическая система TH-F120 поддерживает автоматическое переключение между параллельным и сходящимся электронным пучком, что позволяет адаптировать режим работы под различные задачи получения изображений и исследования образца.
Версия повышенного контраста или высокого разрешения
TH-F120 выпускается в двух конфигурациях, построенных на общей платформе, но оптимизированных для разных исследовательских приоритетов.
| Параметр | Версия повышенного контраста | Версия высокого разрешения |
|---|---|---|
| Ускоряющее напряжение | 10–120 кВ | 10–200 кВ |
| Информационный предел | 0,20 нм | 0,18 нм |
| Точечное разрешение | 0,36 нм | 0,30 нм |
| Диапазон увеличения | 10–1 200 000× | 25–1 050 000× |
| Разрешение камеры | 4096×4096 пикселей | 4096×4096 пикселей |
| Диапазон наклона столика | −90…+90° | −70…+70° |
| Когда выбирать | Когда приоритетом является получение контрастных изображений и широкий диапазон наклона образца | Когда ключевое значение имеет максимальная детализация структуры и пространственное разрешение |
Электронно-оптическая система
TH-F120 оснащён автоэмиссионной электронной пушкой Шоттки и системой автоматического переключения параллельного и сходящегося электронных пучков.
В конструкции используется высокоточный четырёхосный столик образца и симметричная система объективной линзы. Управление микроскопом и основными рабочими процессами объединено в специализированном программном обеспечении.
Пушка Шоттки
Автоэмиссионный источник электронов используется для формирования стабильного электронного пучка при высокоразрешающих исследованиях.
Высокоточный столик
Четырёхосная система позиционирования позволяет точно устанавливать исследуемую область и управлять положением образца.
CMOS-камера
Камера с разрешением 4096×4096 пикселей используется для регистрации электронно-микроскопических изображений.
Интегрированное управление
Программное обеспечение объединяет управление системой, получение изображений и контроль основных параметров микроскопа.
Дополнительные аналитические возможности
Базовую конфигурацию TH-F120 можно расширить дополнительными системами в зависимости от задач лаборатории.
STEM
Сканирующий просвечивающий режим расширяет возможности исследования локальной структуры и формирования изображения электронным зондом.
EDS
Энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия позволяет дополнять изображение данными об элементном составе исследуемых участков.
EELS
Спектроскопия энергетических потерь электронов расширяет возможности анализа состава и электронной структуры материала.
Дополнительное оснащение
Для специализированных исследований доступны дополнительная боковая камера и криобокс.
Области применения TH-F120
Просвечивающая электронная микроскопия применяется в фундаментальных и прикладных исследованиях материалов, где необходимо получить информацию о структуре на микро- и наномасштабе.
Как выбрать конфигурацию
При выборе TH-F120 в первую очередь необходимо определить, что важнее для конкретного исследования: повышенный контраст изображения или максимальное пространственное разрешение.
Далее учитываются типы исследуемых образцов, необходимый диапазон наклона столика и потребность в дополнительных аналитических методах — STEM, EDS или EELS.
Такой подход позволяет подобрать конфигурацию под реальные исследовательские задачи, не включая в систему невостребованные модули.
Купить просвечивающий электронный микроскоп CIQTEK
ТК «Элемент» поможет подобрать конфигурацию просвечивающего электронного микроскопа TH-F120 CIQTEK с учётом исследуемых материалов, требований к разрешению и необходимым аналитическим возможностям.
Проконсультируем по выбору версии повышенного контраста или высокого разрешения и дополнительного оснащения STEM, EDS, EELS и других доступных модулей.
ТК «Элемент» обеспечивает поставку оборудования, ввод в эксплуатацию, обучение пользователей и последующее сервисное обслуживание.
Технические характеристики
Компания «Элемент» — более 20 лет на рынке аналитического и лабораторного оборудования.
- Сотрудничаем с ведущими производителями и подбираем решения под задачи конкретной лаборатории.
- Собственная сервисная служба объединяет опытных инженеров в Москве, Екатеринбурге и Новосибирске.
- Обеспечиваем полный цикл работ: от подбора и поставки оборудования до ввода в эксплуатацию и обучения персонала.
- Более 1000 организаций выбрали «Элемент» в качестве поставщика и партнёра: вузы, государственные учреждения, промышленные предприятия, фармацевтические и медицинские организации.
Заявка успешно отправлена
Мы свяжемся с вами в ближайшее время, а пока можете продолжить работу с сайтом
ОСТАЛИСЬ ВОПРОСЫ
ИЛИ НЕ НАШЛИ,
ЧТО ИСКАЛИ?
Опишите задачу вашей лаборатории или просто оставьте
контактные данные, и мы свяжемся с вами для
индивидуальной консультации
Заказать
обратный
звонок
Заявка успешно отправлена
Мы свяжемся с вами в ближайшее время, а пока можете продолжить работу с сайтом