Язык:
8 (800) 700-83-47
lab@element-msk.ru
Обратный звонок
Подписка на рассылку
Важный ЭЛЕМЕНТ Вашей лаборатории
Каталог
О компании
Применение
Сервис
Контакты
Главная
>
Каталог по типам
>
Оборудование для анализа поверхности
>
Растровые электронные микроскопы JEOL
По типу оборудования
По брендам
По сферам применения
Оборудование:
Компактный растровый электронный микроскоп JSM-6010PLUS InTouchScope
Растровые электронные микроскопы JSM-IT300
Растровые электронные микроскопы серии JSM-6510
Растровый аналитический электронный микроскоп JSM-7100F
Растровый электронный микроскоп JIB-4501 Multibeam с ионной пушкой для микротравления
Растровый электронный микроскоп высокого разрешения JIB-4601F Multibeam с ионной пушкой для микротравления
Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7500F
Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7800F
Заявка на обратный звонок
При заполнении формы Вы даете согласие на обработку персональных данных.
отправить
Подписка на рассылку
При заполнении формы Вы даете согласие на обработку персональных данных.
Какие темы вас интересуют?
Новинки
Мероприятия
Спецпредложения
Другое
отправить