Язык:
8 (800) 700-83-47
lab@element-msk.ru
Обратный звонок
Подписка на рассылку
Важный ЭЛЕМЕНТ Вашей лаборатории
Каталог
О компании
Применение
Сервис
Контакты
Главная
>
Каталог по типам
>
Оборудование для анализа поверхности
>
Растровые электронные микроскопы JEOL
По типу оборудования
По брендам
По сферам применения
Оборудование:
Компактный растровый электронный микроскоп JSM-6010PLUS InTouchScope
Растровые электронные микроскопы JSM-IT300
Растровые электронные микроскопы серии JSM-6510
Растровый аналитический электронный микроскоп JSM-7100F
Растровый электронный микроскоп JIB-4501 Multibeam с ионной пушкой для микротравления
Растровый электронный микроскоп высокого разрешения JIB-4601F Multibeam с ионной пушкой для микротравления
Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7500F
Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7800F