Широкопольный NV-микроскоп CIQTEK / ZHONGTAI
Для визуализации распределения магнитного поля на образце
Сканирующий NV-микроскоп CIQTEK / ZHONGTAI Для изучения магнитных свойств материалов
Цена
По запросу
Сканирующий NV-микроскоп CIQTEK / ZHONGTAI Для изучения магнитных свойств материалов
Характеристики
Бренд
CIQTEK / ZHONGTAI
Сферы применения
- Электронная, металлургическая и горнодобывающая промышленность.
- Биология, медицина, наука, образование и криминалистика.
Категории
Микроскопы лабораторные и исследовательские
Цена
По запросу
Исполнение
комнатная версия / криогенная версия
Чувствительность к магнитному полю
≤2 мкТл/√Гц / ≤5 мкТл/√Гц
Пространственное разрешение
10–30 нм
Диапазон рабочих температур
300 К / 2–300 К
Описание
NV-микроскоп CIQTEK предназначен для исследования локальных магнитных полей и магнитных свойств материалов с пространственным разрешением 10–30 нм. Прибор применяется для изучения сверхпроводников, двумерных магнитных материалов, ферро- и антиферромагнетиков и доступен в версии для комнатной температуры и криогенном исполнении.
описание
характеристики
дополнительная информация
NV-микроскоп CIQTEK для исследования магнитных полей
NV-микроскоп CIQTEK — сканирующая система для исследования локальных магнитных полей и магнитной структуры материалов с пространственным разрешением 10–30 нм.
В основе работы прибора лежит оптически детектируемый магнитный резонанс NV-центров в алмазе в сочетании со сканирующей зондовой микроскопией. Такая архитектура позволяет получать пространственные карты магнитного поля и исследовать магнитные свойства образца на микро- и наномасштабе.
Платформа SNVM доступна в двух исполнениях: для исследований при комнатной температуре и в криогенной конфигурации с рабочим диапазоном температур от 2 до 300 К.
Разрешение 10–30 нм
Сканирующий NV-зонд позволяет исследовать распределение магнитного поля с нанометровым пространственным разрешением и визуализировать локальные магнитные структуры.
Количественное картирование
Система регистрирует изменение резонансных характеристик NV-центра под действием локального магнитного поля и формирует его пространственную карту.
Комнатная и криогенная версии
Для стандартных измерений используется исполнение при комнатной температуре, а для низкотемпературных исследований доступна версия с диапазоном 2–300 К.
Несколько режимов микроскопии
Помимо NV-магнитометрии система поддерживает атомно-силовую, магнитно-силовую и конфокальную флуоресцентную микроскопию.
Как работает NV-микроскоп
Чувствительным элементом системы служит NV-центр — дефект кристаллической решётки алмаза, содержащий атом азота и соседнюю вакансию. Его спиновое состояние зависит от величины локального магнитного поля.
Состояние NV-центра считывается методом оптически детектируемого магнитного резонанса — ОДМР. При перемещении NV-зонда относительно поверхности образца система последовательно измеряет магнитный сигнал в разных точках и формирует пространственное изображение распределения магнитного поля.
NV-микроскоп позволяет исследовать не только интегральный магнитный отклик образца, но и локальное распределение магнитного поля и магнитных структур с пространственным разрешением 10–30 нм.
Два исполнения для разных исследовательских задач
| Параметр | Версия для комнатной температуры | Криогенная версия |
|---|---|---|
| Рабочая температура | 300 К | 2–300 К |
| Чувствительность к магнитному полю | ≤2 мкТл/√Гц | ≤5 мкТл/√Гц |
| Пространственное разрешение | 10–30 нм | 10–30 нм |
| Магнитная система | 0–50 мТл | Высокопольные конфигурации |
| Типовые задачи | Исследование магнитных материалов, тонких плёнок и микро- и наноструктур при комнатной температуре | Низкотемпературные исследования, изучение сверхпроводников и магнитных материалов в сильных магнитных полях |
Режимы измерений и микроскопии
NV-микроскоп CIQTEK позволяет использовать несколько режимов магнитной и микроскопической визуализации в рамках одной исследовательской системы.
Сочетание различных режимов позволяет сопоставлять магнитные свойства исследуемого участка с его поверхностной структурой и оптическими характеристиками.
Какие материалы можно исследовать
Сканирующая NV-микроскопия применяется в исследованиях, где необходимо определить пространственное распределение слабых магнитных полей и изучить локальную магнитную структуру материала.
Для каких исследований подходит NV-микроскоп
Сверхпроводники
Исследование локального распределения магнитного поля и магнитных структур при комнатных и низких температурах.
Магнитные материалы
Изучение ферромагнитных, антиферромагнитных и мультиферроидных структур на микро- и наномасштабе.
Двумерные материалы
Исследование локальных магнитных свойств двумерных систем и тонких магнитных слоёв.
Спинтроника
Визуализация пространственного распределения магнитных полей в микро- и наноструктурах, используемых в спинтронных исследованиях.
Сканирующий или широкопольный NV-микроскоп
Сканирующие и широкопольные NV-микроскопы используют магниточувствительные NV-центры в алмазе, но отличаются способом получения изображения и масштабом исследуемой области.
Сканирующий NV-микроскоп выбирают, когда ключевое значение имеет пространственное разрешение и необходимо исследовать локальную магнитную структуру на нанометровом уровне. Система CIQTEK обеспечивает пространственное разрешение 10–30 нм и подходит для изучения сверхпроводников, двумерных магнитных материалов, ферро- и антиферромагнитных структур.
Широкопольный NV-микроскоп CIQTEK предназначен для визуализации и картирования магнитного поля одновременно на большей площади образца. Его выбирают, когда важнее поле изображения и получение двумерной магнитной карты исследуемой области, чем максимальное пространственное разрешение.
| Критерий | Сканирующий NV-микроскоп | Широкопольный NV-микроскоп |
|---|---|---|
| Получение изображения | Последовательное сканирование поверхности NV-зондом | Одновременная регистрация магнитного поля на всей исследуемой области |
| Пространственное разрешение | 10–30 нм | ≤900 нм |
| Исследуемая область | Локальные микро- и наноструктуры | Поле изображения ≥1×1 мм |
| Когда выбирать | Когда приоритетно исследование локальной магнитной структуры с максимальным пространственным разрешением | Когда необходимо получить магнитную карту большей площади образца |
Выбор между двумя системами зависит прежде всего от масштаба задачи: сканирующая NV-микроскопия подходит для детального исследования локальных магнитных структур, а широкопольная — для визуализации распределения магнитного поля на большей площади.
Купить NV-микроскоп CIQTEK
ТК «Элемент» поможет подобрать конфигурацию NV-микроскопа CIQTEK с учётом исследуемых материалов, необходимого пространственного разрешения, температурного диапазона и условий проведения эксперимента.
Проконсультируем по выбору комнатной или криогенной версии, конфигурации магнитной системы и дополнительным возможностям оборудования.
ТК «Элемент» обеспечивает поставку оборудования, ввод в эксплуатацию, обучение пользователей и последующее сервисное обслуживание.
Технические характеристики
Исполнение
комнатная версия / криогенная версия
Чувствительность к магнитному полю
≤2 мкТл/√Гц / ≤5 мкТл/√Гц
Пространственное разрешение
10–30 нм
Диапазон рабочих температур
300 К / 2–300 К
Режимы измерений
ISO-B, Dual-B, Full-B, тушение флуоресценции, AFM, MFM, CFM
Магнитная система
до 50 мТл для комнатной версии; высокопольные конфигурации для криогенной версии
Компания «Элемент» — более 20 лет на рынке аналитического и лабораторного оборудования.
- Сотрудничаем с ведущими производителями и подбираем решения под задачи конкретной лаборатории.
- Собственная сервисная служба объединяет опытных инженеров в Москве, Екатеринбурге и Новосибирске.
- Обеспечиваем полный цикл работ: от подбора и поставки оборудования до ввода в эксплуатацию и обучения персонала.
- Более 1000 организаций выбрали «Элемент» в качестве поставщика и партнёра: вузы, государственные учреждения, промышленные предприятия, фармацевтические и медицинские организации.
Заявка успешно отправлена
Мы свяжемся с вами в ближайшее время, а пока можете продолжить работу с сайтом
ПОХОЖИЕ ТОВАРЫ
ОСТАЛИСЬ ВОПРОСЫ
ИЛИ НЕ НАШЛИ,
ЧТО ИСКАЛИ?
Опишите задачу вашей лаборатории или просто оставьте
контактные данные, и мы свяжемся с вами для
индивидуальной консультации
Заказать
обратный
звонок
Заявка успешно отправлена
Мы свяжемся с вами в ближайшее время, а пока можете продолжить работу с сайтом
Цена
По запросу