Сканирующий NV-микроскоп CIQTEK / ZHONGTAI
Для изучения магнитных свойств материалов
Широкопольный NV-микроскоп CIQTEK / ZHONGTAI Для визуализации распределения магнитного поля на образце
Цена
По запросу
Широкопольный NV-микроскоп CIQTEK / ZHONGTAI Для визуализации распределения магнитного поля на образце
Характеристики
Бренд
CIQTEK / ZHONGTAI
Сферы применения
- Электронная, металлургическая и горнодобывающая промышленность.
- Биология, медицина, наука, образование и криминалистика.
Категории
Микроскопы лабораторные и исследовательские
Цена
По запросу
Чувствительность к магнитному полю
≤5 мкТл/√Гц
Пространственное разрешение
≤900 нм
Поле изображения
≥1×1 мм
Динамический диапазон магнитного поля
100 нТл–10 мТл
Описание
Широкопольный NV-микроскоп CIQTEK предназначен для визуализации и картирования распределения магнитного поля на поверхности образца. Система одновременно регистрирует магнитный сигнал на области от 1×1 мм, обеспечивает пространственное разрешение ≤900 нм и позволяет сопоставлять магнитные и оптические изображения.
описание
характеристики
дополнительная информация
Широкопольный NV-микроскоп CIQTEK для визуализации магнитного поля
Широкопольный NV-микроскоп CIQTEK предназначен для визуализации и картирования распределения магнитного поля на поверхности образца.
Прибор использует оптически детектируемый магнитный резонанс NV-центров в алмазе и двумерную систему регистрации. Благодаря этому магнитный сигнал регистрируется одновременно на всей исследуемой области, а не последовательно в отдельных точках.
Система обеспечивает поле изображения не менее 1×1 мм, пространственное разрешение ≤900 нм и позволяет сопоставлять магнитные и оптические изображения исследуемого объекта.
Поле изображения от 1×1 мм
Широкопольная архитектура позволяет исследовать распределение магнитного поля одновременно на сравнительно большой площади образца.
Пространственное разрешение ≤900 нм
Система позволяет визуализировать локальные неоднородности магнитного поля с субмикронным пространственным разрешением.
Магнитное и оптическое изображение
Магнитную карту можно сопоставлять с оптическим изображением исследуемого участка, что упрощает интерпретацию результатов.
Диапазон от 100 нТл до 10 мТл
Широкий динамический диапазон регистрируемого магнитного поля позволяет исследовать различные типы магнитных объектов и структур.
Как работает широкопольный NV-микроскоп
Чувствительным элементом системы служит алмазный слой с ансамблем NV-центров — дефектов кристаллической решётки алмаза, содержащих атом азота и соседнюю вакансию. Их спиновое состояние зависит от локального магнитного поля.
При воздействии лазерного излучения и микроволнового поля состояние NV-центров считывается методом оптически детектируемого магнитного резонанса — ОДМР. Изменение резонансного отклика используется для определения магнитного поля в каждой точке изображения.
Использование двумерного ансамбля NV-центров позволяет одновременно регистрировать магнитный сигнал на всей исследуемой области и формировать двумерную карту распределения магнитного поля.
Главное отличие широкопольной NV-микроскопии — одновременное получение магнитного изображения большой области образца без последовательного сканирования каждой точки одиночным NV-зондом.
Визуализация и картирование магнитного поля
Широкопольная NV-микроскопия позволяет увидеть, как магнитное поле распределено по поверхности образца: определить локальные неоднородности, сравнить отдельные участки и проследить пространственное изменение магнитного сигнала.
Система поддерживает получение магнитных и оптических изображений исследуемого объекта. Это позволяет сопоставлять магнитные свойства участка с его видимой структурой.
Программные алгоритмы обработки данных могут использоваться для реконструкции распределения магнитного момента и дальнейшего анализа полученных магнитных карт.
Основные области применения
Магнитные материалы
Исследование пространственного распределения магнитного поля, локальных неоднородностей и магнитной структуры материалов.
Микроэлектроника
Анализ распределения электрического тока по создаваемому им магнитному полю, исследование проводящих дорожек, межсоединений и отдельных участков электронных устройств.
Геология и палеомагнетизм
Исследование остаточной намагниченности минералов, горных пород и метеоритов с пространственным разрешением, недоступным интегральным измерениям.
Биомедицинские исследования
Визуализация магнитных объектов, магнитных частиц и меток в биологических образцах в рамках исследовательских задач.
Какие объекты можно исследовать
Сканирующий или широкопольный NV-микроскоп
Оба типа приборов используют NV-центры в алмазе для измерения магнитных полей, однако отличаются способом формирования изображения и масштабом исследования.
| Критерий | Широкопольный NV-микроскоп | Сканирующий NV-микроскоп |
|---|---|---|
| Получение изображения | Одновременная регистрация магнитного поля на всей исследуемой области | Последовательное сканирование поверхности NV-зондом |
| Пространственное разрешение | ≤900 нм | 10–30 нм |
| Исследуемая область | Поле изображения ≥1×1 мм | Локальные микро- и наноструктуры |
| Когда выбирать | Когда необходимо получить магнитную карту большей площади образца | Когда приоритетно исследование локальной магнитной структуры с максимальным пространственным разрешением |
Широкопольный NV-микроскоп выбирают, когда важно получить двумерную карту распределения магнитного поля на сравнительно большой площади образца.
Сканирующий NV-микроскоп CIQTEK подходит для задач, где ключевое значение имеет пространственное разрешение и необходимо исследовать локальные магнитные структуры на нанометровом уровне.
Выбор между двумя системами зависит прежде всего от масштаба задачи: широкопольная NV-микроскопия подходит для визуализации распределения магнитного поля на большей площади, а сканирующая — для детального исследования локальных магнитных структур.
Условия проведения исследований
Широкопольная система CIQTEK может применяться как в обычных лабораторных условиях, так и в составе экспериментальных установок с криогенной и вакуумной средой.
Конкретная конфигурация оборудования определяется температурными условиями, типом образцов, требуемым полем изображения и исследовательской задачей.
Купить широкопольный NV-микроскоп CIQTEK
ТК «Элемент» поможет подобрать конфигурацию широкопольного NV-микроскопа CIQTEK с учётом исследуемых объектов, требуемого поля изображения, чувствительности и условий проведения эксперимента.
Проконсультируем по выбору конфигурации, поставке, вводу оборудования в эксплуатацию и обучению пользователей.
ТК «Элемент» обеспечивает последующее сервисное обслуживание оборудования.
Технические характеристики
Чувствительность к магнитному полю
≤5 мкТл/√Гц
Пространственное разрешение
≤900 нм
Поле изображения
≥1×1 мм
Динамический диапазон магнитного поля
100 нТл–10 мТл
Разрешение изображения
2048×2048 пикселей
Режимы визуализации
магнитная и оптическая
Компания «Элемент» — более 20 лет на рынке аналитического и лабораторного оборудования.
- Сотрудничаем с ведущими производителями и подбираем решения под задачи конкретной лаборатории.
- Собственная сервисная служба объединяет опытных инженеров в Москве, Екатеринбурге и Новосибирске.
- Обеспечиваем полный цикл работ: от подбора и поставки оборудования до ввода в эксплуатацию и обучения персонала.
- Более 1000 организаций выбрали «Элемент» в качестве поставщика и партнёра: вузы, государственные учреждения, промышленные предприятия, фармацевтические и медицинские организации.
Заявка успешно отправлена
Мы свяжемся с вами в ближайшее время, а пока можете продолжить работу с сайтом
ПОХОЖИЕ ТОВАРЫ
ОСТАЛИСЬ ВОПРОСЫ
ИЛИ НЕ НАШЛИ,
ЧТО ИСКАЛИ?
Опишите задачу вашей лаборатории или просто оставьте
контактные данные, и мы свяжемся с вами для
индивидуальной консультации
Заказать
обратный
звонок
Заявка успешно отправлена
Мы свяжемся с вами в ближайшее время, а пока можете продолжить работу с сайтом
Цена
По запросу