Сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700HT Plus Shimadzu
Для исследования рельефа и локальных свойств поверхности
Атомно-силовой микроскоп SPM-8100FM Shimadzu Для высокоразрешающего исследования поверхности в воздухе и жидкости
Цена
По запросу
Атомно-силовой микроскоп SPM-8100FM Shimadzu Для высокоразрешающего исследования поверхности в воздухе и жидкости
Характеристики
Бренд
Shimadzu
Сферы применения
- Автомобилестроение, производство полимеров, пластмасс, лаков и красок.
- Химическая, нефтехимическая промышленность.
- Электронная, металлургическая и горнодобывающая промышленность.
- Биология, медицина, наука, образование и криминалистика.
Категории
Микроскопы лабораторные и исследовательские
Цена
По запросу
Режимы наблюдения
контактный; динамический AM; динамический FM; латеральных сил LFM
Разрешение XY
0,2 нм
Разрешение Z
0,01 нм
Стандартная область сканирования X×Y×Z
10×10×1 мкм
Описание
SPM-8100FM Shimadzu — высокоразрешающий атомно-силовой микроскоп для исследования структуры и локальных свойств поверхности в воздухе и жидкости. Система использует частотно-модуляционный режим FM-AFM и позволяет изучать в том числе процессы и структуры на границе твёрдое тело–жидкость.
описание
характеристики
дополнительная информация
Атомно-силовой микроскоп SPM-8100FM Shimadzu
SPM-8100FM Shimadzu — высокоразрешающий атомно-силовой микроскоп для исследования структуры и локальных свойств поверхности в воздухе и жидкости.
Ключевая особенность системы — частотно-модуляционный режим FM-AFM, позволяющий проводить высокоразрешающие измерения поверхности и исследовать структуры на границе твёрдое тело–жидкость.
SPM-8100FM может применяться для изучения кристаллов, катализаторов, аккумуляторных материалов, покрытий, тонких плёнок и других объектов, где необходимо исследовать поверхность на нано- и атомном масштабе.
Высокое разрешение
Разрешение системы составляет 0,2 нм в плоскости XY и 0,01 нм по оси Z.
Измерения в жидкости
Микроскоп позволяет исследовать поверхности и межфазные структуры непосредственно в жидкой среде, а не только в воздухе.
FM-AFM
Частотно-модуляционный режим используется для высокочувствительного измерения взаимодействия между зондом и поверхностью образца.
Несколько режимов наблюдения
Помимо FM-AFM система поддерживает контактный режим, динамический AM и микроскопию латеральных сил LFM.
Как работает атомно-силовой микроскоп
В атомно-силовой микроскопии поверхность образца исследуется с помощью острого зонда, расположенного на кантилевере. При сканировании система регистрирует взаимодействие между зондом и поверхностью и формирует трёхмерное изображение её рельефа.
В SPM-8100FM положение кантилевера контролируется оптической системой с лазерным диодом и фотодетектором. Высокая чувствительность системы позволяет регистрировать крайне малые изменения положения и взаимодействия зонда.
Атомно-силовая микроскопия позволяет получать
информацию о рельефе и локальных свойствах поверхности
без использования электронного пучка и может применяться
как в воздухе, так и в жидкой среде.
FM-AFM для высокоразрешающих исследований
В режиме FM-AFM измеряется изменение резонансной частоты кантилевера при взаимодействии зонда с поверхностью. Такой подход позволяет регистрировать слабые силы взаимодействия и проводить измерения с высоким пространственным разрешением.
Особенно важна эта возможность при исследовании поверхности в жидкости, где условия измерения отличаются от работы в воздухе и требуется высокая чувствительность к взаимодействию зонда с поверхностью.
SPM-8100FM применяется, в частности, для наблюдения структуры кристаллов в растворах и исследования гидратационных и сольватационных слоёв на поверхности материалов.
Исследование границы твёрдое тело–жидкость
Одно из ключевых направлений применения SPM-8100FM — изучение структуры жидкости непосредственно вблизи поверхности твёрдого материала.
На таких границах могут формироваться гидратационные и сольватационные слои, влияющие на растворение, химические реакции, перенос заряда, смачивание, трение и другие поверхностные процессы.
Система позволяет исследовать изменение взаимодействия зонда с образцом не только в плоскости поверхности, но и по высоте, что расширяет возможности анализа межфазной структуры.
Режимы наблюдения
| Режим | Назначение |
|---|---|
| Contact | Контактное сканирование поверхности и получение данных о её рельефе. |
| Dynamic AM | Динамический режим с амплитудной модуляцией для исследования поверхности с уменьшенным воздействием зонда. |
| Dynamic FM | Частотно-модуляционный режим для высокоразрешающих измерений и регистрации слабых взаимодействий. |
| LFM | Микроскопия латеральных сил для исследования различий в поверхностном трении. |
Какие объекты можно исследовать
SPM-8100FM или SPM-9700HT Plus
Обе системы Shimadzu относятся к сканирующей зондовой и атомно-силовой микроскопии, но ориентированы на разные исследовательские приоритеты.
SPM-8100FM выбирают прежде всего для высокоразрешающих исследований, включая измерения в жидкости и изучение структуры твёрдожидкостных интерфейсов.
SPM-9700HT Plus Shimadzu больше ориентирован на универсальные исследования поверхности, автоматизацию настройки условий наблюдения, быстрое получение изображений и картирование локальных физических свойств.
Если приоритетом является максимальное разрешение
и работа с поверхностью в жидкой среде,
ключевой системой является SPM-8100FM.
Для широкого набора исследовательских задач
с акцентом на производительность и универсальность
стоит рассматривать SPM-9700HT Plus.
Дополнительные возможности
Для SPM-8100FM доступны дополнительные конфигурации и принадлежности, позволяющие адаптировать систему к конкретной исследовательской задаче.
Сканер 30 мкм
Расширяет область сканирования до 30×30×5 мкм.
Измерения в растворах
Ячейка типа чашки Петри предназначена для исследований образцов непосредственно в жидкой среде.
Виброизоляция
Доступны пассивные и активные виброизолирующие системы для стабильных высокоразрешающих измерений.
Обработка данных
Дополнительное программное обеспечение может использоваться для анализа частиц и обработки результатов измерений.
Купить атомно-силовой микроскоп SPM-8100FM Shimadzu
ТК «Элемент» поможет подобрать конфигурацию SPM-8100FM Shimadzu с учётом исследуемых образцов, требуемого диапазона сканирования, среды измерения и необходимых режимов наблюдения.
Проконсультируем по выбору сканера, оснащению для исследований в жидкости и дополнительным возможностям системы.
ТК «Элемент» обеспечивает поставку оборудования, ввод в эксплуатацию, обучение пользователей и последующее сервисное обслуживание.
Технические характеристики
Режимы наблюдения
контактный; динамический AM; динамический FM; латеральных сил LFM
Разрешение XY
0,2 нм
Разрешение Z
0,01 нм
Стандартная область сканирования X×Y×Z
10×10×1 мкм
Опциональная область сканирования X×Y×Z
30×30×5 мкм
Максимальный размер образца
Ø35×8 мм
Среда наблюдения
воздух и жидкость
Компания «Элемент» — более 20 лет на рынке аналитического и лабораторного оборудования.
- Сотрудничаем с ведущими производителями и подбираем решения под задачи конкретной лаборатории.
- Собственная сервисная служба объединяет опытных инженеров в Москве, Екатеринбурге и Новосибирске.
- Обеспечиваем полный цикл работ: от подбора и поставки оборудования до ввода в эксплуатацию и обучения персонала.
- Более 1000 организаций выбрали «Элемент» в качестве поставщика и партнёра: вузы, государственные учреждения, промышленные предприятия, фармацевтические и медицинские организации.
Заявка успешно отправлена
Мы свяжемся с вами в ближайшее время, а пока можете продолжить работу с сайтом
ПОХОЖИЕ ТОВАРЫ
ОСТАЛИСЬ ВОПРОСЫ
ИЛИ НЕ НАШЛИ,
ЧТО ИСКАЛИ?
Опишите задачу вашей лаборатории или просто оставьте
контактные данные, и мы свяжемся с вами для
индивидуальной консультации
Заказать
обратный
звонок
Заявка успешно отправлена
Мы свяжемся с вами в ближайшее время, а пока можете продолжить работу с сайтом
Цена
По запросу