Сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700HT Plus Shimadzu Для исследования рельефа и локальных свойств поверхности
Сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700HT Plus Shimadzu Для исследования рельефа и локальных свойств поверхности
Характеристики
- Автомобилестроение, производство полимеров, пластмасс, лаков и красок.
- Химическая, нефтехимическая промышленность.
- Биология, медицина, наука, образование и криминалистика.
- Электронная, металлургическая и горнодобывающая промышленность.
Описание
SPM-9700HT Plus Shimadzu — сканирующий зондовый микроскоп для исследования рельефа и локальных физических свойств поверхности на наномасштабе. Система сочетает высокоскоростное сканирование, автоматическую настройку условий наблюдения NanoAssist и расширенные режимы картирования механических, электрических и магнитных свойств.
Сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700HT Plus Shimadzu
SPM-9700HT Plus Shimadzu — сканирующий зондовый микроскоп для исследования трёхмерного рельефа и локальных физических свойств поверхности на микро- и наномасштабе.
Система предназначена для широкого спектра задач атомно-силовой и сканирующей зондовой микроскопии: от измерения топографии поверхности до картирования механических, электрических и магнитных свойств.
В SPM-9700HT Plus особое внимание уделено производительности измерений и воспроизводимости результатов: система поддерживает высокоскоростное сканирование, автоматическую настройку условий наблюдения NanoAssist и ускоренное картирование локальных свойств.
Высокоскоростное сканирование
HT-сканер и оптимизированная система управления позволяют получать изображения значительно быстрее по сравнению с предыдущим поколением оборудования.
NanoAssist
Для начала измерения достаточно задать область наблюдения: система автоматически подбирает необходимые параметры сканирования.
Картирование свойств
Микроскоп позволяет исследовать не только рельеф, но и пространственное распределение локальных механических, электрических и магнитных характеристик.
Работа с разными образцами
Различные режимы и варианты сканеров позволяют адаптировать систему к образцам с разными размерами, твёрдостью, проводимостью и структурой поверхности.
Как работает сканирующий зондовый микроскоп
Поверхность образца исследуется острым зондом, закреплённым на кантилевере. Во время сканирования система регистрирует взаимодействие зонда с поверхностью и формирует её трёхмерное изображение.
В зависимости от выбранного режима измерения SPM-9700HT Plus может регистрировать не только геометрию поверхности, но и локальные изменения механических, электрических и магнитных свойств.
NanoAssist — автоматическая настройка измерений
Функция NanoAssist упрощает подготовку измерения: пользователю необходимо указать область наблюдения, после чего программное обеспечение автоматически устанавливает условия сканирования.
Это уменьшает зависимость результата от опыта оператора и помогает получать стабильные изображения при выполнении повторяющихся измерений.
Быстрое картирование локальных свойств
Для исследований, где необходимо определить распределение физических свойств по поверхности, доступно программное обеспечение Nano 3D Mapping Fast.
Оно используется для ускоренного измерения и построения карт локальных характеристик, например модуля упругости и силы адгезии.
За счёт высокой скорости измерения становится удобнее сравнивать различные области образца и оценивать неоднородность материала.
Режимы исследования поверхности
| Режим | Что позволяет исследовать |
|---|---|
| Contact | Рельеф поверхности в контактном режиме. |
| Dynamic | Топографию поверхности с уменьшенным механическим воздействием зонда. |
| Phase | Локальные различия свойств материалов, не всегда заметные только по топографии. |
| LFM | Пространственное распределение латеральных сил и различий в трении. |
| Force Modulation | Различия механических свойств отдельных участков поверхности. |
| MFM — опция | Распределение магнитных свойств поверхности. |
| KFM — опция | Распределение поверхностного потенциала. |
| Измерение тока — опция | Локальные различия электрической проводимости. |
Какие материалы можно исследовать
Выбор области сканирования
Стандартный сканер обеспечивает максимальную область 10×10×1 мкм. Для задач с другими требованиями доступны дополнительные варианты сканеров.
| Исполнение | Максимальная область сканирования X×Y×Z |
|---|---|
| Стандартный сканер | 10×10×1 мкм |
| Опциональный сканер | 30×30×5 мкм |
| Опциональный сканер | 55×55×13 мкм |
| Опциональный сканер | 125×125×7 мкм |
| Опциональный сканер | 2,5×2,5×0,3 мкм |
SPM-9700HT Plus или SPM-8100FM
Обе системы Shimadzu относятся к сканирующей зондовой и атомно-силовой микроскопии, но рассчитаны на разные исследовательские приоритеты.
SPM-9700HT Plus подходит для широкого спектра задач анализа поверхности, когда важны производительность, автоматизация измерений, разнообразие режимов и картирование локальных свойств.
SPM-8100FM Shimadzu ориентирован прежде всего на высокоразрешающие FM-AFM исследования, в том числе в жидкой среде и на границе твёрдое тело–жидкость.
Купить сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700HT Plus Shimadzu
ТК «Элемент» поможет подобрать конфигурацию SPM-9700HT Plus Shimadzu с учётом исследуемых материалов, требуемой области сканирования и необходимых режимов анализа поверхности.
Проконсультируем по выбору сканера, режимов измерения и программных возможностей для картирования локальных свойств.
ТК «Элемент» обеспечивает поставку оборудования, ввод в эксплуатацию, обучение пользователей и последующее сервисное обслуживание.
Технические характеристики
Компания «Элемент» — более 20 лет на рынке аналитического и лабораторного оборудования.
- Сотрудничаем с ведущими производителями и подбираем решения под задачи конкретной лаборатории.
- Собственная сервисная служба объединяет опытных инженеров в Москве, Екатеринбурге и Новосибирске.
- Обеспечиваем полный цикл работ: от подбора и поставки оборудования до ввода в эксплуатацию и обучения персонала.
- Более 1000 организаций выбрали «Элемент» в качестве поставщика и партнёра: вузы, государственные учреждения, промышленные предприятия, фармацевтические и медицинские организации.
Заявка успешно отправлена
Мы свяжемся с вами в ближайшее время, а пока можете продолжить работу с сайтом
ОСТАЛИСЬ ВОПРОСЫ
ИЛИ НЕ НАШЛИ,
ЧТО ИСКАЛИ?
Опишите задачу вашей лаборатории или просто оставьте
контактные данные, и мы свяжемся с вами для
индивидуальной консультации
Заказать
обратный
звонок
Заявка успешно отправлена
Мы свяжемся с вами в ближайшее время, а пока можете продолжить работу с сайтом