SPM-9700HT Plus Shimadzu сканирующий зондовый микроскоп

Cочетает высокую скорость съёмки, точность измерений и простоту эксплуатации.
Технологии NanoAssist и Nano3D Mapping Fast позволяют автоматически оптимизировать условия наблюдения и сократить время построения 3D-карт физических свойств до 27 минут — почти вдвое быстрее, чем у предыдущей модели.
Благодаря механизму Head Slide замена образцов выполняется без снятия кантилевера, что повышает производительность и минимизирует риск ошибок.

Система поддерживает широкий спектр методов: контактный и динамический режим, фазо-силовую модуляцию, измерения в жидкости, картирование токов, магнитных и поверхностных потенциалов, а также морфологический и частичный анализ частиц.
Интегрированные функции анализа позволяют исследовать шероховатость, распределение наночастиц, модули упругости и другие параметры с высокой воспроизводимостью.