Купить оборудование CIQTEK: ЯМР, ЭПР, BET, микроскопы | ТК «Элемент»

CIQTEK / ZHONGTAI

Оборудование Анализатор удельной поверхности и пористости EASY-V 1220 CIQTEK

EASY-V 1220 CIQTEK / ZHONGTAI

Двухканальный БЭТ-анализатор для определения удельной поверхности и распределения пор 2–500 нм

Оборудование Анализатор удельной поверхности и пористости EASY-V 3440 CIQTEK

EASY-V 3440 CIQTEK / ZHONGTAI

Четырёхканальный БЭТ-анализатор для исследования микро-, мезо- и макропористых материалов

Оборудование ЯМР-спектрометр CAN600 600 МГц CIQTEK / ZHONGTAI

CAN600 CIQTEK / ZHONGTAI

Высокопольный ЯМР-спектрометр 600 МГц для исследования сложных молекулярных систем

Оборудование ЯМР-спектрометр CAN400 400 МГц CIQTEK / ZHONGTAI

CAN400 CIQTEK / ZHONGTAI

ЯМР-спектрометр 400 МГц для спектроскопии высокого разрешения

Оборудование Настольный ЭПР-спектрометр ZT6500 CIQTEK / ZHONGTAI

ZT6500 CIQTEK / ZHONGTAI

Компактный настольный ЭПР-спектрометр

Оборудование Напольный ЭПР-спектрометр ZT15C CIQTEK / ZHONGTAI

ZT15C CIQTEK / ZHONGTAI

Напольный ЭПР-спектрометр для высокочувствительных измерений

Оборудование Импульсный ЭПР-спектрометр ZT15P CIQTEK / ZHONGTAI

ZT15P CIQTEK / ZHONGTAI

Импульсный ЭПР-спектрометр для исследования спиновой динамики

Оборудование Высокочастотный ЭПР-спектрометр ZT60W CIQTEK / ZHONGTAI

ZT60W CIQTEK / ZHONGTAI

Высокочастотный ЭПР-спектрометр повышенного спектрального разрешения

Оборудование NV-микроскоп CIQTEK для исследования магнитных полей

Сканирующий NV-микроскоп CIQTEK / ZHONGTAI

Для изучения магнитных свойств материалов

Оборудование Широкопольный NV-микроскоп CIQTEK для визуализации магнитного поля

Широкопольный NV-микроскоп CIQTEK / ZHONGTAI

Для визуализации распределения магнитного поля на образце

Оборудование Просвечивающий электронный микроскоп TH-F120 CIQTEK / ZHONGTAI

Просвечивающий электронный микроскоп CIQTEK / ZHONGTAI

Для исследования структуры материалов с высоким разрешением

Научное оборудование CIQTEK / ZHONGTAI

CIQTEK (Сиктек) — разработчик и производитель высокотехнологичного научного оборудования для исследования структуры, состава и физических свойств веществ и материалов.

В каталоге ТК «Элемент» оборудование CIQTEK представлено несколькими аналитическими направлениями: ЯМР-спектроскопией, ЭПР-спектроскопией, анализом удельной поверхности и пористости, а также электронной и NV-микроскопией. Эти методы позволяют получать принципиально разные типы информации об исследуемом образце.

Оборудование CIQTEK в каталоге ТК «Элемент»

ЯМР-спектроскопия CIQTEK

ЯМР-спектрометры применяются для исследования состава, молекулярной структуры и химического окружения атомных ядер. Метод востребован в химии, фармацевтических исследованиях, материаловедении и других научных направлениях.

ЯМР-спектрометры CIQTEK

ЭПР-спектроскопия CIQTEK

ЭПР позволяет исследовать свободные радикалы, парамагнитные ионы, дефектные центры и спиновые системы. В каталоге представлены решения для непрерывноволновых, импульсных и высокочастотных измерений.

ЭПР-спектрометры CIQTEK

Удельная поверхность и пористость

Газоадсорбционные анализаторы CIQTEK используются для определения удельной поверхности, объёма пор и распределения пор по размерам в порошках, сорбентах, катализаторах и других пористых материалах.

BET-анализаторы CIQTEK

Просвечивающая электронная микроскопия

Электронная микроскопия позволяет исследовать внутреннюю структуру материалов, наночастицы, кристаллическое строение и дефекты с высоким пространственным разрешением.

Просвечивающий электронный микроскоп CIQTEK TH-F120

NV-микроскопия CIQTEK

NV-микроскопы используют центры азот-вакансия в алмазе в качестве квантовых сенсоров для исследования локальных магнитных полей и магнитных свойств материалов.

Сканирующий NV-микроскоп CIQTEK — для локальных измерений; широкопольный NV-микроскоп CIQTEK — для визуализации распределения магнитного поля на большей площади образца.

Какие задачи решает оборудование CIQTEK

01

Молекулярная структура

ЯМР позволяет исследовать строение молекул, состав вещества и химическое окружение атомных ядер.

02

Парамагнитные состояния

ЭПР используется для исследования свободных радикалов, парамагнитных ионов, дефектов и спиновых процессов.

03

Поверхность и поровая структура

Газовая адсорбция позволяет определять удельную поверхность, объём пор и распределение пор по размерам.

04

Внутренняя структура материалов

Просвечивающая электронная микроскопия используется для исследования наноструктуры, кристаллического строения, частиц, дефектов и интерфейсов.

05

Локальные магнитные поля

NV-микроскопия позволяет исследовать пространственное распределение слабых магнитных полей на микро- и наноуровне.

Области применения оборудования CIQTEK

Оборудование CIQTEK используется в фундаментальных и прикладных исследованиях веществ и материалов. Конкретная область применения зависит от метода, типа образца и конфигурации системы.

Материаловедение Аналитическая химия Органическая химия Катализ Фармацевтические исследования Энергетические материалы Пористые материалы Полимеры Магнитные материалы Полупроводники Наноматериалы Биофизические исследования

CIQTEK — разработчик научного оборудования

CIQTEK развивает собственные приборные платформы в области магнитного резонанса, электронной микроскопии, квантового сенсинга и газоадсорбционного анализа. Оборудование производителя применяется для исследования физических, химических и материаловедческих систем.

Линейка CIQTEK объединяет методы, работающие на разных уровнях: от молекулярной и спиновой структуры до пористости, наноструктуры и локальных магнитных свойств материалов.

Купить оборудование CIQTEK / ZHONGTAI

В ТК «Элемент» можно купить оборудование CIQTEK для спектроскопических, материаловедческих и микроскопических исследований.

Мы поможем выбрать подходящий метод и модель, подобрать конфигурацию с учётом исследуемых образцов и экспериментальных задач, организовать поставку, ввод оборудования в эксплуатацию, обучение пользователей и сервисное обслуживание.