Купить оборудование CIQTEK / Zhongtai — ЯМР, ЭПР, BET | ТК Элемент

CIQTEK / ZHONGTAI

Оборудование Анализатор удельной поверхности и пористости EASY-V 1220 CIQTEK

EASY-V 1220 CIQTEK / ZHONGTAI

Двухканальный БЭТ-анализатор для определения удельной поверхности и распределения пор 2–500 нм

Оборудование Анализатор удельной поверхности и пористости EASY-V 3440 CIQTEK

EASY-V 3440 CIQTEK / ZHONGTAI

Четырёхканальный БЭТ-анализатор для исследования микро-, мезо- и макропористых материалов

Оборудование ЯМР-спектрометр CAN600 600 МГц CIQTEK / ZHONGTAI

CAN600 CIQTEK / ZHONGTAI

Высокопольный ЯМР-спектрометр 600 МГц для исследования сложных молекулярных систем

Оборудование ЯМР-спектрометр CAN400 400 МГц CIQTEK / ZHONGTAI

CAN400 CIQTEK / ZHONGTAI

ЯМР-спектрометр 400 МГц для спектроскопии высокого разрешения

Оборудование ZT6500 CIQTEK / ZHONGTAI — компактный настольный ЭПР-спектрометр X-диапазона

ZT6500 CIQTEK / ZHONGTAI

Компактный настольный ЭПР-спектрометр

Оборудование Напольный ЭПР-спектрометр ZT15C CIQTEK / ZHONGTAI

ZT15C CIQTEK / ZHONGTAI

Напольный ЭПР-спектрометр для высокочувствительных измерений

Оборудование ZT15P CIQTEK / ZHONGTAI — импульсный ЭПР-спектрометр X-диапазона

ZT15P CIQTEK / ZHONGTAI

Импульсный ЭПР-спектрометр для исследования спиновой динамики

Оборудование ZT60W CIQTEK / ZHONGTAI — высокочастотный ЭПР-спектрометр W-диапазона

ZT60W CIQTEK / ZHONGTAI

Высокочастотный ЭПР-спектрометр повышенного спектрального разрешения

Оборудование NV-микроскоп CIQTEK для исследования магнитных полей

Сканирующий NV-микроскоп CIQTEK / ZHONGTAI

Для изучения магнитных свойств материалов

Оборудование Широкопольный NV-микроскоп CIQTEK для визуализации магнитного поля

Широкопольный NV-микроскоп CIQTEK / ZHONGTAI

Для визуализации распределения магнитного поля на образце

Оборудование Просвечивающий электронный микроскоп TH-F120 CIQTEK / ZHONGTAI

Просвечивающий электронный микроскоп CIQTEK / ZHONGTAI

Для исследования структуры материалов с высоким разрешением

Научное оборудование CIQTEK / ZHONGTAI

CIQTEK (Сиктек) — международный разработчик и производитель научного оборудования для исследования структуры, состава и физических свойств веществ и материалов. Основные направления производителя включают магнитно-резонансную спектроскопию, электронную микроскопию, квантовый сенсинг и газоадсорбционный анализ.

На российском рынке часть оборудования CIQTEK поставляется под наименованием Zhongtai. Поэтому в каталоге ТК «Элемент» модели могут быть представлены под брендом Zhongtai, при этом международный бренд производителя — CIQTEK.

В каталоге ТК «Элемент» представлены ЯМР-спектрометры CIQTEK, ЭПР-спектрометры CIQTEK / Zhongtai, оборудование для анализа удельной поверхности и пористости, просвечивающая электронная микроскопия и NV-микроскопы.

Оборудование CIQTEK в каталоге ТК «Элемент»

ЯМР-спектрометры CIQTEK

Спектрометры ядерного магнитного резонанса CIQTEK предназначены для исследования молекулярной структуры, состава вещества и химического окружения атомных ядер. ЯМР применяется в органической и неорганической химии, фармацевтических исследованиях, материаловедении и других научных направлениях.

В линейке представлены исследовательские ЯМР-системы, включая приборы с рабочей частотой 400 и 600 МГц.

ЯМР-спектрометры CIQTEK

ЭПР-спектрометры CIQTEK / Zhongtai

Спектроскопия электронного парамагнитного резонанса используется для исследования свободных радикалов, парамагнитных ионов, дефектных центров, спиновой динамики и электрон-ядерных взаимодействий.

В каталоге представлены настольные и исследовательские CW-системы, импульсные ЭПР-спектрометры X-диапазона и высокочастотные системы W-диапазона.

ЭПР-спектрометры CIQTEK / Zhongtai

Анализ удельной поверхности и пористости

Газоадсорбционные анализаторы CIQTEK применяются для определения удельной поверхности, объёма пор и распределения пор по размерам.

Такое оборудование используется при исследовании катализаторов, сорбентов, порошков, аккумуляторных материалов, цеолитов, MOF-структур и других пористых систем.

BET-анализаторы CIQTEK

Просвечивающая электронная микроскопия

Просвечивающие электронные микроскопы CIQTEK предназначены для исследования внутренней структуры материалов с высоким пространственным разрешением.

Метод применяется для изучения наночастиц, кристаллической структуры, дефектов, интерфейсов и других особенностей материалов на микро- и наноуровне.

Просвечивающий электронный микроскоп CIQTEK TH-F120

NV-микроскопия CIQTEK

NV-микроскопы используют центры азот-вакансия в алмазе как квантовые сенсоры магнитного поля. Метод позволяет исследовать локальные магнитные свойства материалов без применения традиционной магнитной зондовой микроскопии.

В зависимости от задачи можно использовать сканирующую систему для локального картирования или широкопольную конфигурацию для визуализации распределения магнитного поля на большей площади образца.

Сканирующий NV-микроскоп CIQTEK — широкопольный NV-микроскоп CIQTEK .

Какие задачи решает оборудование CIQTEK

01

Молекулярная структура

ЯМР-спектроскопия позволяет устанавливать строение молекул, исследовать состав вещества, химическое окружение атомов и взаимодействия между фрагментами молекулярной системы.

02

Парамагнитные состояния

ЭПР применяется для исследования свободных радикалов, ионов переходных металлов, дефектов материалов, спиновой динамики и взаимодействий в парамагнитных системах.

03

Поверхность и поровая структура

Газоадсорбционный анализ позволяет определять удельную поверхность, общий объём пор, распределение пор по размерам и характеристики микро-, мезо- и макропористых материалов.

04

Наноструктура материалов

Просвечивающая электронная микроскопия используется для исследования кристаллической структуры, наночастиц, дефектов, фазовых границ и внутренних интерфейсов материалов.

05

Локальные магнитные поля

NV-микроскопия позволяет картировать пространственное распределение слабых магнитных полей и исследовать магнитные свойства материалов на микро- и наноуровне.

Какое оборудование CIQTEK выбрать

Исследовательская задача Метод Оборудование CIQTEK
Определение молекулярной структуры и химического окружения атомов Ядерный магнитный резонанс ЯМР-спектрометр CIQTEK
Свободные радикалы, парамагнитные ионы, дефекты и спиновые взаимодействия Электронный парамагнитный резонанс ЭПР-спектрометр CIQTEK / Zhongtai
Удельная поверхность, объём и распределение пор Газовая адсорбция BET-анализатор CIQTEK
Наноструктура, частицы, дефекты и кристаллическое строение Просвечивающая электронная микроскопия TEM CIQTEK
Пространственное распределение локальных магнитных полей NV-магнитометрия NV-микроскоп CIQTEK

Магнитно-резонансное оборудование CIQTEK

Одно из ключевых направлений CIQTEK — оборудование для магнитно-резонансной спектроскопии. Производитель развивает как системы ядерного магнитного резонанса, так и широкую линейку оборудования для электронного парамагнитного резонанса.

ЯМР-спектрометры CIQTEK применяются прежде всего для исследования молекулярной структуры и химического состава, тогда как ЭПР-спектрометры CIQTEK / Zhongtai предназначены для исследования систем с неспаренными электронами.

Благодаря этому оборудование CIQTEK охватывает два взаимодополняющих направления магнитно-резонансных исследований — ЯМР и ЭПР.

Области применения оборудования CIQTEK

Оборудование CIQTEK используется в фундаментальных и прикладных исследованиях, где необходимо получать информацию о молекулярной структуре, спиновых состояниях, пористости, наноструктуре или магнитных свойствах вещества.

Материаловедение Аналитическая химия Органическая химия Неорганическая химия Катализ Фармацевтические исследования Энергетические материалы Аккумуляторные материалы Пористые материалы Полимеры Магнитные материалы Полупроводники Наноматериалы Квантовые материалы Биофизические исследования

CIQTEK — разработчик научного оборудования

CIQTEK развивает приборные платформы для электронной микроскопии, ядерного и электронного парамагнитного резонанса, квантового сенсинга и газоадсорбционного анализа.

Эти методы работают на разных уровнях организации вещества: ЯМР позволяет исследовать молекулярную структуру, ЭПР — парамагнитные центры и спиновые взаимодействия, BET-анализ — поверхность и пористость, электронная микроскопия — наноструктуру, а NV-микроскопия — локальные магнитные поля.

За счёт этого оборудование CIQTEK может использоваться как для отдельных аналитических задач, так и в комплексных исследованиях материалов, где требуется сочетание нескольких взаимодополняющих методов.

Купить оборудование CIQTEK / ZHONGTAI

В ТК «Элемент» можно подобрать и купить оборудование CIQTEK / Zhongtai для магнитно-резонансной спектроскопии, исследования поверхности и пористости, электронной и квантовой микроскопии.

Специалисты ТК «Элемент» помогут определить подходящий метод, выбрать модель и конфигурацию с учётом исследуемых образцов и экспериментальных задач, а также проконсультируют по поставке, вводу оборудования в эксплуатацию, обучению пользователей и сервисному обслуживанию.